品牌 | 其他品牌 | 貨號 | 123 |
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規(guī)格 | CSG-14-50-GH-J6 | 供貨周期 | 一個月以上 |
主要用途 | 機(jī)械設(shè)備 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
名稱 | 哈默納科 | 用途 | 半導(dǎo)體、機(jī)器人、機(jī)械設(shè)備 |
材質(zhì) | 鋼 | 是否進(jìn)口 | 是 |
3)考慮選用標(biāo)準(zhǔn)化、系列化、通用化的計量器具,以便于安裝、使用、維修和更換。
4)所選測量器具應(yīng)適應(yīng)被測工件的結(jié)構(gòu)、哈默納科基面測量諧波CSG-14-50-GH-J6材料的特殊性。如被測件的大小、形狀、重量、材料、表面粗糙度等。
4.測量基準(zhǔn)面的選擇
測量基準(zhǔn)的選擇應(yīng)遵守基準(zhǔn)統(tǒng)一原則,哈默納科基面測量諧波CSG-14-50-GH-J6并由測量的目的而定。測量基準(zhǔn)的選擇有以下幾種情況:
C1)在工序檢測時,應(yīng)以工藝基面為測量基準(zhǔn)面。通常以工件裝卡在機(jī)床夾具上的定位基面為測量基準(zhǔn)。以正確評定和分析加工質(zhì)量。
C2)在產(chǎn)品終結(jié)檢測時,應(yīng)以裝配基面為測量基準(zhǔn),以保證與設(shè)計和使用要求一致。
C3>當(dāng)由于各種原因,使工藝基面與設(shè)計基面不一致,或工藝基面受到破壞,或由于量儀測量條件的限制等,無法滿足上述兩條要求時,可選擇某一輔助基面為測量基面。選擇輔助測量基面的一般原則為:
1)以精度較高的面作為輔助基面,也可事先加工一個面作為輔助測量基面。
2)輔助測量基面應(yīng)保證測量的穩(wěn)定性。
3)在被測參數(shù)較多的情況下,選擇與各參數(shù)關(guān)系密切、便于控制各參數(shù)的某一面作為測量的輔助基面。